中華精測發表PCIe 6.0測試介面解決方案

中華精測（6510）5日於半導體展的先進測試技術論壇「Advanced Testing Forum」以「A 64GT／s High-Speed Probe Card for PCIe Gen6 PAM4 Test」為題簡介全新PCIe 6.0測試介面解決方案，說明該公司運用AI工具實現以自製BKS系列探針卡、測試板，全套晶圓測試介面解決方案在廠內精準量測次世代高速傳輸訊號。

近20年來PCI Express一直是推動資訊高速傳輸演進的關鍵技術。PCIe 6.0技術規範自兩年前正式發布以來，因為傳輸編碼以PAM4規格取代NRZ規格，在傳輸表現上較PCIe 5.0技術規範 (32 GT／s) 效能提高了1倍，同時又具備低延遲等優勢，被視為影響未來資料中心、人工智慧／機器學習、高效能運算 (HPC)、自駕車、物聯網和航太等資料密集型市場發展的關鍵傳輸技術。

近一年來，AI伺服器更新迭代發展加速，即便目前PCIe 4.0扮主流、PCIe 5.0正日益普及化，但AI伺服器相關固態硬碟 (SSD) 已經開始率先採用PCIe 6.0。從AI伺服器的機架單元 (rack unit) 盒內結構觀察，除了SSD之外，中央處理器 (CPU) 、AI加速器、智慧網卡(NIC)皆屬於PCIe插槽範圍，一旦先驅者SSD採用，即預告PCIe 6.0將躍升高速傳輸新主流。

有鑑於此，中華精測AI研發工具率先導入進行PCIe 6.0測試，從挑選合規的MEMS探針卡、可匹配的測試板、到執行整套測試介面的模擬，透過AI高精準度的量測特性，從最終眼圖結果等多項指標報告顯示，中華精測廠內已可精準量測PCIe 6.0高速傳輸訊號，提供BKS探針卡與晶圓測試介面解決方案。