半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest)宣布,旗下業界第一的T5800產品系列新推出經濟實惠、高同測數記憶體測試機。最新T5835系統具備5.4Gbps作業速度及大量同測能力,針對現階段與次世代DRAM核心及高速NAND Flash記憶體提供多元廣泛的測試解決方案。

綜觀市場趨勢,隨著揮發性與非揮發性記憶體IC的介面速度持續加快,原先中等速度的DRAM核心最終測試速度也持續增加,並在可靠度、測試覆蓋率和成本效益之間達到最佳平衡。現今高速元件在進行NAND Flash記憶體測試時的介面速度可能超過2 Gbps,預料即將問世的非揮發性記憶體測試速度甚至將超過4 Gbps。對IC製造商而言,理想的測試解決方案除了要能跟上日益提高的性能要求,還要維持或改善整體測試成本。

最新T5835系統對任何運作速度高達5.4 Gbps的記憶體IC都具備完整測試功能,包含各新世代記憶體,如NAND Flash快閃記憶體、雙倍資料率DDR與低功率雙倍資料率LPDDR的DRAM晶片都能滿足測試需求。此外,T5835系統內建專門的硬體功能,使其能實現領先業界的高產能要求、降低測試成本,針對最終封裝級測試更能同時處理768個元件。

T5835系統功能包括DRAM已知良品(KGD)晶圓級測試,針對先進行動記憶體強化的可編程設計電源供應(PPS),以及即時DQS vs. DQ功能藉以提升良率。

T5835的設計是基於模組強化的T5800系列平台,能使晶圓測試與最終測試的可擴充性、彈性與效能達到最佳化。這套系統可以設置為研發環境使用的工程機,也能配備小、中或大型測試頭,投入線上生產測試。

T5835系統設置都承襲愛德萬測試現有的記憶體測試系統,並搭載Future Suite作業系統,提供客戶具延續性的測試程式相容性。這些特點讓使用者得以從前代T5800系列無縫接軌,同時又能兼顧生產效率。

愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁鈴木雅之表示,具備高性能、多元功能的最新T5835系統,不僅是T5800系列最高等級新作,也是目前業界最優秀的記憶體測試機。T5800產品家族早已是市場認可的全球標準,最新推出的T5835測試機亦將延續一貫優異傳統。首批T5835系統預計於今年底前出貨給關鍵客戶。

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